Библиографическое описание:Черевко, А. С. Исследование матричных помех в атомно-эмиссионной спектрометрии с дуговым аргоновым двухструйным плазмотроном / А. С. Черевко, А. А. Морозова. - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2017. - Т. 83, № 1, ч. 2. - С. 90-97. - Библиогр.: с. 96-97 ( назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация:Изучено влияние матричных элементов Rb, K, Na, Ba, Sr, Ca, Ce, La, Y на условия возбуждения спектров в плазменной струе дугового аргонового двухструйного плазмотрона. Выявлены доминирующие механизмы возбуждения атомов и ионов аналита с различными энергетическими характеристиками в присутствии той или иной матрицы. Обнаружен новый вид матричных помех, обусловленных низким вторым ионизационным потенциалом матричных элементов. Такие элементы, особенно имеющие низколежащие уровни двухзарядного иона, уменьшают заселенность возбужденного состояния атома аргона в плазме, что приводит к ослаблению эффективности возбуждения ионной эмиссии аналита через ионизацию Пеннинга.
