Библиографическое описание:Оценка составляющей систематической погрешности рентгеноспектрального микроанализа, обусловленной поверхностным рельефом образца / А. Л. Васильев [и др.]. - (Анализ вещества). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2016. - Т. 82, № 12. - С. 15-18. - Библиогр.: с. 18 (5 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация:Предложен полуэмпирический способ априорной оценки влияния рельефа поверхности на результаты рентгеноспектрального анализа бинарных соединений. Безразмерный параметр, характеризующий влияние рельефа на интенсивность характеристического рентгеновского излучения, определен с использованием экспериментальных данных, полученных для тестовых монокристаллических образцов GaAs с известными геометрическими параметрами рельефа.
