Библиографическое описание:Диагностика многослойных наноматериалов методами рентгеновской и электронной кристаллографии / Р. М. Имамов [и др.]. - (Исследование структуры и свойств) (Физические методы исследования и контроля). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2016. - Т. 82, № 9. - С. 31-42. - Библиогр.: с. 41-42 (25 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация:На примере многослойных наногетероструктур A{3}B{5} на подложках арсенида галлия и фосфида индия, перспективных для изделий СВЧ- и оптоэлектроники, показаны возможности диагностики наноматериалов методами электронной и рентгеновской кристаллографии. Разработка и использование нового подхода, основанного на комплексном исследовании строения экспериментальных образцов, позволили усовершенствовать лабораторную технологию выращивания многослойных наногетероструктур A{3}B{5}, оптимизировать технологические режимы получения экспериментальных образцов с прогнозируемыми физическими характеристиками.
