Оценка предельно допустимого угла отклонения кристаллографической плоскости (hkl) от заданной геометрической плоскости монокристаллического образца при его определении по стандартной методике
Библиографическое описание:Гаврилов, К. В. Оценка предельно допустимого угла отклонения кристаллографической плоскости (hkl) от заданной геометрической плоскости монокристаллического образца при его определении по стандартной методике / К. В. Гаврилов, В. Е. Каневский, В. Ф. Павлов. - (Исследование структуры и свойств) (Физические методы исследования и контроля) (Обмен опытом). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2016. - Т. 82, № 12. - С. 43-44. - ISSN 1028-6861.
Аннотация:Предложены формулы, позволяющие оценить максимальные величины углов отклонения кристаллографических плоскостей (hkl) от заданных геометрических плоскостей монокристаллических образцов, при которых возможно определение по стандартной методике при измерении в условиях диафрагмированного и расходящегося рентгеновских пучков, падающих на образец. Измерения, выполненные на монокристаллических пластинах кремния в отражениях (111), (220), (400), (333) CuK[альфа1]-излучения, показали удовлетворительное соответствие (в пределах погрешности измерений) полученных экспериментально предельных величин углов отклонения, при которых еще возможна регистрация отраженных рентгеновских пучков с расчетными значениями.
