Оценка предельно допустимого угла отклонения кристаллографической плоскости (hkl) от заданной геометрической плоскости монокристаллического образца при его определении по стандартной методике

Гаврилов К. В.; Каневский В. Е.; Павлов В. Ф.

База данных: Каталог библиотеки СФУ (Г 124)

Библиографическое описание: Гаврилов, К. В. Оценка предельно допустимого угла отклонения кристаллографической плоскости (hkl) от заданной геометрической плоскости монокристаллического образца при его определении по стандартной методике / К. В. Гаврилов, В. Е. Каневский, В. Ф. Павлов. - (Исследование структуры и свойств) (Физические методы исследования и контроля) (Обмен опытом). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2016. - Т. 82, № 12. - С. 43-44. - ISSN 1028-6861.

Аннотация: Предложены формулы, позволяющие оценить максимальные величины углов отклонения кристаллографических плоскостей (hkl) от заданных геометрических плоскостей монокристаллических образцов, при которых возможно определение по стандартной методике при измерении в условиях диафрагмированного и расходящегося рентгеновских пучков, падающих на образец. Измерения, выполненные на монокристаллических пластинах кремния в отражениях (111), (220), (400), (333) CuK[альфа1]-излучения, показали удовлетворительное соответствие (в пределах погрешности измерений) полученных экспериментально предельных величин углов отклонения, при которых еще возможна регистрация отраженных рентгеновских пучков с расчетными значениями.

Год издания: 2016

Авторы: Гаврилов К. В. , Каневский В. Е. , Павлов В. Ф.

Источник: Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Выпуск: Т. 82, № 12

Номера страниц: 43-44

Количество экземпляров:

Читальный зал (пер. Вузовский, 6Д): свободно 1 из 1 экземпляров

Показать дополнительные сведения

Рентгеновские методы осевого фазового контраста и осевой голографии

Лидер В. В.
2015 год

Причина уширения брэгговских дифракционных пиков, снятых от шлифованных поверхностей пластин…

Павлов В. Ф.
2015 год

Установка ПРДУ "КРОС" для экспрессного определения кристаллографической ориентации кубических…

Потрахов Н. Н. и др.
2015 год

Рентгенографический метод исследования монокристальных изделий

Сидохин Ф. А. и др.
2014 год

Оценка эффективности метода поиска авиационного средства по лазерному лучу

Нагалин А. В. и др.
2015 год

Создание экзотических состояний вещества с помощью рентгеновского излучения, генерируемого при…

Пикуз С. А. и др.
2014 год

Поведение керамик, полученных на основе нанопорошков Al[2]O[3] и ZrO[2], при облучении гамма…

Хрустов В. Р. и др.
2014 год

Методика получения прямых полюсных фигур от монокристаллов жаропрочных сплавов на рентгеновских…

Кузьмина Н. А. и др.
2014 год

Общая физика. Методические указания по выполнению курсовой работы

Герасимова Юлия Валентиновна и др.
2018 год

Анализ текстурных компонент металлов по прямым полюсным фигурам на основе объектно-векторного…

Мокрова С. М. и др.
2014 год

Сравнительные экспериментальные исследования основных электротехнических параметров изоляции…

Кручек Виктор Александрович и др.
2021 год

Состояние и направления развития вторичного эталона единиц энергетической яркости и температуры…

Шарганов К. А. и др.
2014 год

Оценка составляющей систематической погрешности рентгеноспектрального микроанализа, обусловленной…

Васильев А. Л. и др.
2016 год

Выявление кристаллографических особенностей высококислородных кобальтатов YBaCo[4]O[8,4] с…

Комаров В. Ю. и др.
2015 год

Общая физика. Ч. 3. Оптика, атомная и ядерная физика

Кошманов Василий Владимирович и др.
2003 год

Стандартные образцы наночастиц Au и ZnO для калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров

Запорожец М. А. и др.
2013 год

Библиотечно-издательский комплекс СФУ

Похожие публикации