Библиографическое описание:Снижение пределов обнаружения примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой / Н. С. Медведев [и др.]. - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2015. - Т. 81, № 1, ч. 2. - С. 157-160. - Библиогр.: с. 160 (10 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация:Для снижения пределов обнаружения примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой использовано устройство электротермического испарения проб.