Возможности методов сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии для сравнительного анализа микроструктуры нанокомпозиционных высокопрочных проводников in situ на основе медной матрицы и ОЦК-металлов
Библиографическое описание:Возможности методов сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии для сравнительного анализа микроструктуры нанокомпозиционных высокопрочных проводников in situ на основе медной матрицы и ОЦК-металлов / С. А. Никулин [и др.]. - (Композиционные материалы). - Текст : непосредственный // Металловедение и термическая обработка металлов. - 2016. - № 4. - С. 23-28. - ISSN 0026-0819.
Аннотация:Разработана методика пробоподготовки и количественного анализа структуры нанокомпозиционных проводников in situ. Проведен анализ микроструктуры образцов нанокомпозиционных проводников in situ систем Cu - Fe и Cu - V диаметром 0, 44 - 0, 80 мм методами просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии. Структура обоих композитов зеренно-субзеренная с размером зерна ~ 200 нм и выделениями второй фазы (Fe/V-волокна) длиной 100 - 1400 нм и толщиной 10 - 80 нм (в поперечном сечении).
