Библиографическое описание:Гавриков, М. М. Метод одномерной структурной аппроксимации 3D-изображений в задаче метрологического контроля ячеистых поверхностей промышленных изделий / М. М. Гавриков, Р. М. Синецкий, А. Ю. Мезенцева. - Текст : непосредственный // Известия вузов. Электромеханика. - 2017. - Т. 60, № 3. - С. 80-88 : 3 рис., 2 табл. - Библиогр.: с. 87 (10 назв. ). - Заглавие, авторы, аннотация, ключевые слова на английском языке приведены в конце статьи. - ISSN 0136-3360.
Аннотация:Разработаны структурно-аппроксимационные алгоритмы анализа 3D-изображений и их применения в задаче метрологического контроля геометрических параметров поверхностей крупногабаритных промышленных изделий ячеистой структуры. 3D-изображения представлены в виде облаков точек, получаемых путем триангуляционного лазерного сканирования изделий. Суть алгоритмов состоит в синтезе и последующем анализе структурных аппроксимационных моделей линий точек, образующих 3D-изображения ячеистой поверхности изделия. Приведены результаты апробации в натурных экспериментах в сравнении с другими алгоритмами метрологического контроля ячеистых поверхностей промышленных изделий.
Ключевые слова:3D-изображения, анализ изображений, лазерные сканеры, метод структурной аппроксимации, метрологический контроль изделий, облака точек, промышленные изделия, триангуляционные сканеры, ячеистые поверхности
Рубрики:Вычислительная техника, Распознавание и преобразование образов
