Статьи выпуска

• Оценка быстродействия помехозащищенных преобразователей параметров многоэлементных RC-двухполюсников. — С. 3-7
  Бобылев Дмитрий Алексеевич
• Защита сетей IoT (Интернет вещей) от несанкционированного доступа методом рандомизации адресного пространства. — С. 8-15
  Крылов Владимир Владимирович [и др.]
• Повышение точности оценивания неизвестных параметров путем совместной обработки избыточных измерений в системе пространственно-разнесенных датчиков. — С. 16-20
  Бачевский Сергей Викторович, Борисов Евгений Геннадьевич, Машков Георгий Михайлович
• Алгоритм определения координат центра масс протяженных изделий. — С. 20-23
  Куропятник Игорь Николаевич
• Информационная система с подвижными узлами связи. — С. 24-28
  Фархадов Маис Паша оглы [и др.]
• Возможности мультисенсорного зондирования в решении задач распознавания природных и антропогенных объектов. — С. 29-34
  Виноградов Алексей Николаевич [и др.]
• Оптоэлектронная измерительная система для удаленных аналоговых датчиков. — С. 34-38
  Соколовский Александр Алексеевич, Отчерцов Андрей Владимирович, Моисеев Владимир Викторович
• Исследование полупроводниковых магниточувствительных сенсоров для задач контроля и управления. — С. 38-43
  Виноградова Елена Петровна [и др.]
• Резонаторное микроволновое устройство для измерения физических параметров диэлектрического листового материала. — С. 43-46
  Совлуков Александр Сергеевич
• Подключение датчиков с одинаковыми адресами к шине I{2}C. — С. 47-50
  Осипов Александр Борисович
• Электромагнитная совместимость индуктивных датчиков приближения. — С. 51-53
  Морозов Виталий Пантелеймонович
• Контроль положения фокального пятна электронного луча с применением математической модели датчика вторичного тока в плазме. — С. 53-59
  Щавлев Валерий Евгеньевич, Трушников Дмитрий Николаевич, Южаков Александр Анатольевич
• Исследование влияния электромагнитного поля на свойства жидкой среды. — С. 59-63
  Шаповалов Дмитрий Святославович, Пащенко Федор Федорович
• Итоги XV Международной выставки "NDT-Russia". — С. 64-65
• Экспозицию выставки Testing & Control 2015 посетили более 8300 специалистов. — С. 66-67
• Указатель статей, опубликованных в журнале "Датчики и системы" в 2015 г.. — С. 68-72