Магнитоэлипсометрия тонких пленок Тематическая обновляемая подборка литературы

Магнитоэллипсометрия — новое перспективное направление исследования магнитных наноструктур полупроводниковой спинтроники (раздел квантовой электроники, занимающийся изучением спинового токопереноса (спин-поляризованного транспорта) в твердотельных веществах, и соответствующая инженерная область). Метод сочетает в себе традиционное эллипсометрическое зондирование — измерение амплитудно-поляризационных характеристик отражённого света, с измерением параметров оптического отклика, возникающего при модуляции магнитного поля (магнитооптический эффект Керра). Такой подход позволяет получить информацию не только об оптических, структурных, свойствах, морфологии поверхности, но и характеризовать магнитную упорядоченность выращенных структур, исследовать доменную магнитную структуру, измерять величину коэрцитивной силы, изучать другие свойства.

Последнее изменение 07.10.2023