Теоретические основы метода туннельной рефрактометрии для исследования распределения свечения в тонком слое
статья из журнала

Цифровые и тематические книжные коллекции издания

Похожие публикации

  • Баранов Александр Михайлович и др.
  • 2005 год

Показать ещё