Теоретические основы метода туннельной рефрактометрии для исследования распределения свечения в тонком слоестатья из журнала
Цифровые и тематические книжные коллекции издания
Похожие публикации
Разработка метода туннельной рефрактометрии и установки для исследования пространственного…
- Кудрявцева Ольга Анатольевна
- 1997 год
Разработка метода туннельной рефрактометрии и установки для исследования пространственного…
- Кудрявцева Ольга Анатольевна
- 1997 год
Расчет электродинамических параметров в неоднородных магнитогазодинамических течениях
- Нестеров Денис Александрович
- 2005 год
Запись и считывание лазерных импульсов при электро-магнитно индуцированной прозрачности
- Тимофеев Иван Владимирович
- 2004 год
Обобщение решения уравнений Эйнштейна-Максвелла для заряженного статического шара с…
- Баранов Александр Михайлович
- 2005 год
Физико-химические методы анализа. Теоретические основы и контрольные задания
- Школьников Е. В.
- 2020 год
Purely Time-dependent Solutions to the Yang-Mills Equations on a 4-dimensional Manifold with…
- Krivonosov Leonid и др.
- 2013 год
Уравнения Эйнштейна на четырехмерном многообразии конформной связности без кручения
- Кривоносов Леонид и др.
- 2012 год






